OMEC歐美克激光粒度分析儀-Topsizer

——中國粒度檢測與分析技術的前沿之作

OMEC歐美克激光粒度分析儀-Topsizer是珠海歐美克儀器有限公司經(jīng)過多年的技術積累后并引進先進技術研發(fā)出的一款高性能激光粒度分析儀。它具有量程寬、重復性好、精度高、測試結果真實、自動化程度高等諸多優(yōu)點，真正站在了當前粒度檢測領域的前沿，代表了中國粒度檢測與分析技術的新高度，是廣受客戶贊譽的國產(chǎn)高性能干濕法激光粒度儀。

一、用途：

既可測量須在液體中分散的樣品，也可測量須在氣體中分散的粉體材料。

二、工作原理：
利用顆粒對光的散射現(xiàn)象，根據(jù)散射光能的分布推算被測顆粒的粒度分布。通過對光學、機械、電子、計算機等系統(tǒng)的整合和優(yōu)化，使歐美克激光粒度儀具備重現(xiàn)性良好、分辨能力高、動態(tài)測量范圍寬廣、操作簡單方便等優(yōu)點。
三、先進的光學系統(tǒng)
雙光源技術

OMEC歐美克激光粒度分析儀-Topsizer采用紅藍雙光源設計，紅光主光源為進口氦-氖激光器，波長0.6328μm，并有藍光輔助半導體光源，波長0.466μm，彌補了常規(guī)設計散射光角度的盲區(qū)，極大地提高了對納米級顆粒及少量大顆粒的分辨力。
穩(wěn)定的激光光源
進口主光源預熱時間短，輸出單模偏振激光偏振比達500:1以上，光束中TEM00模占比達95%以上，且激光功率始終穩(wěn)定，功率波動小于0.5%，使得儀器的背景很低而且穩(wěn)定，大大提高了系統(tǒng)對有效信號的分辨能力。
直線光路設計
OMEC歐美克激光粒度分析儀-Topsizer光路系統(tǒng)采用密閉式直線光路設計，無多余反射光學部件造成的雜散光，亦無粉塵污染干擾，同時采用高精度全鋁合金光學平臺，確保光路穩(wěn)固可靠。
后傅立葉變換單鏡頭設計
單鏡頭設計，采用透鏡后傅立葉變換結構，突破了傅立葉透鏡的光瞳制約，使散射光接收角不受傅立葉鏡頭口徑限制；而且單鏡頭光路中的折射、反射雜散光干擾被減少，可以進一步降低儀器工作時的背景噪聲極低水平，提高了儀器測量時的信噪比。
長焦距的傅里葉透鏡
OMEC歐美克激光粒度分析儀-Topsizer選用具有長焦距的傅立葉透鏡，這樣增加了測量窗口到光電探測器平面的距離（也就是有效焦距），從而使光電探測器能夠準確探測到更小散射角度的散射光信號，大大增強了儀器對大顆粒的測試能力，儀器的測量上限達2000μm。
合理分布、高感光度的進口光電探測器
OMEC歐美克激光粒度分析儀-Topsizer光電探測器為特殊定制的進口光電探測器，確保儀器具有較高的分辨力和靈敏度。探測通道數(shù)多達98個，由前向、側向、大角度和后向光電探測器組成三維立體檢測系統(tǒng)，探測角范圍達到0.016-140度。結合藍光散射信號，實現(xiàn)了空間全角度范圍散射光能信號的無縫接收，有效保證顆粒散射光能信息的全面準確獲取。
智能自動對中
智能軟件控制自動對中系統(tǒng)保證了準確的光學對中。智能判斷自動對中既可作為自動測量的一部分，亦可手動在屏幕上單擊鼠標來完成。智能自動對中系統(tǒng)保證了多次測量的重現(xiàn)性。
四、先進的高性能分散進樣系統(tǒng)
濕法進樣系統(tǒng)：標配SCF-108A循環(huán)進樣器，采用燈籠頭下壓式水流循環(huán)回路設計，配備大功率準確自動控制攪拌電機，可達3500轉/分鐘的同時減少了氣泡和液體飛濺的產(chǎn)生，并具有效率高的分散、清洗、排干能力。內置功率50W的效率高的管路超聲裝置，超聲強度無級連續(xù)可調。標配1000毫升樣品池，可根據(jù)客戶需求更換容量。
可選SCF-105B全自動循環(huán)進樣器，除加樣外的粒度測試操作均可自動控制完成。進樣池采用316L不銹鋼，配置效率50W底部超聲及速度可達4000轉/分鐘的精密攪拌裝置，均無極連續(xù)可調。
根據(jù)需要可選更多不同特性（例如微量、微量循環(huán)、耐腐蝕等）的濕法進樣器。
干法進樣系統(tǒng)：標配DPF-110自動干法進樣器，分散氣壓0.05-0.6MPa無級可調，三重可調下料機構設計，配備壓電陶瓷精密振動控制單元及剛玉瓷分散管，可適應于各種樣品及分散強度的測試要求。內置分散壓傳感器和負壓傳感器，測試條件可追溯。測試窗口全密閉，具有負壓保護裝置，可有效防止窗口和主機的污染。
五、功能強大的分析軟件
軟件設計模塊化，儀器狀態(tài)可視化，操作界面人性化，流程界面清晰明了，擁有導航功能
儀器具備智能化自動化操作。能夠自檢和自動識別進樣系統(tǒng)；每次測量前能自動測量電背景，有效減少電噪聲對測試結果的影響。配置自動化進樣器可以進行全自動干濕法粒度測試，手動測樣亦有清晰的導航測試功能。

完善、開放的樣品特性參數(shù)數(shù)據(jù)庫，具有常用樣品折射率和吸收率參數(shù)

具備SOP標準操作流程，減少人為因素的影響，使分析測試流程標準化

SOP測量控制界面：

多種數(shù)據(jù)分析模型，滿足不同特性樣品的測試需要

體積分布、表面積分布、長度分布和數(shù)量分布之間可以相互轉換  

多種方式的測量數(shù)據(jù)導出，方便數(shù)據(jù)交流

具有兼容GMP附件《計算機化系統(tǒng)》要求的軟件解決方案，具備用戶分級、權限管理、數(shù)據(jù)完整性及可追溯功能。

六、良好的測試性能
寬廣的測量范圍
Topsizer的實測范圍為0.02-2000um，從亞微米顆粒到毫米級顆粒均可一次性實現(xiàn)檢測，能滿足粉體行業(yè)對顆粒粒度檢測與控制的各種需求。

對大顆粒具有強大測試性能

對納米、亞微米等超細顆粒具備良好識別能力

良好的重復性
Topsizer采用全自動的激光校正系統(tǒng)、自動對中系統(tǒng)，從而確保了激光角度校準的準確度，避免了光路的飄移，確保測試的重復性誤差小于0.5%（標準粒子D50）。

良好的再現(xiàn)性
不同主機或不同進樣器之間具有良好的再現(xiàn)性。

杰出的分辨能力
Topsizer能夠準確測定樣品中顆粒分布的微小變化，準確反映樣品的實際粒度分布，能夠滿足技術研究和質量控制的需要。